全譜波長掃描儀

全譜波長掃描儀性能特點:

創新的測角儀設計
保護的創新型鋼帶傳動系統，可以提供穩定、無回程間隙的旋轉運動，以保證精度的角度定位要求；
θ/2θ兩軸獨立運動，并配合伺服電機和圓光柵構成閉環系統；
永磁式交流伺服電機提供業界的高速平滑運動；
圓光柵測角重復性可達±0.0002度，精度達±0.0006度，足以保證優異的角度測量性能；

數字多道分析儀
12位，80M/s的模數轉換采樣率，是業界分辨率的信號采樣系統，保證了信號采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數字信號處理算法，4096道分析系統足以從噪聲中篩選正確的X射線信號
大動態范圍測量，有效減少了探測器增益調節次數

X射線光管和高壓
標準的4kW大功率電源系統，支持高靈敏度的痕量檢測以及更快的檢驗速度
50um/75um的鈹窗厚度保證超高的X射線穿透率，尤其適合低能X射線穿過
高壓電源電壓和電流可達60kV和160mA，用戶可根據實際需要靈活設置電壓和電流參數
雙通道水冷系統，電導率保持在1uS以下，以限度延長光管工作壽命其他
多可支持10塊晶體，可根據客戶需求提供專門優化的人工多層膜晶體，以提升輕元素的檢測能力
薄可達0.3um的正比流氣計數器窗膜，極大提升了輕元素的光通量

其他：
光譜室溫度控制穩定性在±0.05C以內
晶體、準直器和濾光片都采用自動切換控制
軟件
完整而豐富的軟件功能
32位軟件系統，優異的可操作性和人機交互界面
成熟的經驗系數法配合標準樣品提供準確可靠的檢測數據
基本參數法可提供多樣化的分析手段，可進行無標樣的半定量和定量分析
集成的SQLite數據庫用于保存實驗數據，方便數據查詢和管理

全譜波長掃描儀技術指標

進樣系統
樣品形式：固體
樣品尺寸：51.5 mm  × 40 mm
樣品重量：重500g
進樣系統：雙進樣系統，標備除塵過濾器和預抽真空系統；一個樣品測量的同時給另一個樣品預抽真空，互不干擾
自動進樣機：自動機械手進樣系統，多可裝168個樣品
自旋裝置：3種自旋速度(低、中、高)
X射線光管
鈹窗：50um/75um超薄鈹窗，用以保證X射線的高通過率
陽極靶材料：標配銠靶，可選銅靶、鉬靶、鎢靶，鉻靶，鉑靶等
工作模式：樣品進樣時保持工作狀態不變
水冷系統：雙路水循環系統，電導率保持在1uS以下
高壓電源
輸出方式：1kV和1mA的標準調節單位，通過12位DA進行精細調節
長時間穩定性：0.01%/8 hours
溫度穩定性：50 ppm/C
(20 ppm/C可選).
數據
功率：4kW
KV/mA范圍：電壓20-60KV，電流10-140mA；電壓75kV，電流160mA可選.
測角儀
工作模式：創新型鋼帶傳動系統，無摩擦，無回程間隙，帶有圓光柵反饋，θ/2θ兩軸獨立運動
轉角速度：6000  2θ/min
測角精度：0.006° θ / 2θ
測角重復性：0.0002° θ / 2θ
步進角度：小 0.0001°，1°
角度掃描范圍：流氣比例計數器:12° to 150°@2θ
閃爍計數器: 0° to 120°@2θ
光路
準直器面罩：單面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可選)
主準直器：多可裝3個: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可選
主濾光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可選
晶體：多10個: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器：流氣比例計數器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計數器 (SC)
光室真空度：<15Pa
信號處理
數字多道分析儀：12位，80M/s采樣速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信號和噪聲分離
計數率：流氣比例計數器:2Mcps
閃爍計數器: 1.5Mcps
脈沖漂移和增益校正：自動
時間校正：自動