膜厚測試儀的常見故障及解決方法分享

　　膜厚測試儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量可以在10秒到幾分鐘內完成。

　　今天小編要與大家分享的是膜厚測試儀的常見故障及解決方法：

　　1、示值顯現不穩定

　　致使儀器示值顯現不穩定的要素主要是來自工件本身的資料和構造的特別性，再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現不穩定的重要要素，其探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，解決此種毛病的關鍵即是：測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細屑、油脂及腐蝕產物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質。再有即是在進行體系調零時，所使用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。

　　2、屏幕不顯現數據

　　簡略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發現測量仍是不顯現數值，可以思考是不是有測頭及連線有松動、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內電子零部件等要素影響。在實際作業中就碰到過因測頭使用不當被化學物品腐蝕，致使儀器不顯現數據的景象。

　　3、測量成果差錯大

　　探頭的放置方法對測量有很大影響，在測量中應使探頭與被測件外表堅持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭，由于這么不僅對探頭會形成磨損，也不會得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，假如離電磁場十分近時還有也許會發作死機景象。